Ellipsometer Eksperimen LCP-25
Pengenalan
Polarimeter elips manual menggunakan kaedah kepupusan untuk mengukur ketebalan dan indeks biasan filem, dan mengatur secara manual sudut penyimpangan dan penyimpangan proses ujian. Ellipsometry digunakan secara meluas dalam pengukuran filem nipis dielektrik pada substrat pepejal. Dalam kaedah mengukur ketebalan filem, ia dapat diukur dengan ketepatan paling nipis dan tertinggi.
Spesifikasi
| Penerangan | Spesifikasi |
| Julat Pengukuran Ketebalan | 1 nm ~ 300 nm |
| Julat Sudut Kejadian | 30º ~ 90º, Ralat ≤ 0.1º |
| Sudut Persilangan Polarizer & Analyzer | 0º ~ 180º |
| Skala Sudut Cakera | 2º setiap skala |
| Min. Bacaan Vernier | 0.05º |
| Ketinggian Pusat Optik | 152 mm |
| Diameter Tahap Kerja | Φ 50 mm |
| Dimensi Keseluruhan | 730x230x290 mm |
| Berat | Lebih kurang 20 kg |
Senarai bahagian
| Penerangan | Kuantiti |
| Unit Ellipsometer | 1 |
| He-Ne Laser | 1 |
| Penguat Fotoelektrik | 1 |
| Sel Foto | 1 |
| Filem Silika pada Substrat Silikon | 1 |
| CD Perisian Analisis | 1 |
| Arahan manual | 1 |
Tuliskan mesej anda di sini dan hantarkan kepada kami
