LCP-27 Pengukuran Intensiti Difraksi

Penerangan

Sistem eksperimen terdiri terutamanya dari beberapa bahagian, seperti sumber cahaya eksperimen, plat difraksi, perakam intensiti, komputer dan perisian operasi. Melalui antara muka komputer, hasil eksperimen dapat digunakan sebagai lampiran untuk platform optik, dan juga dapat digunakan sebagai eksperimen saja. Sistem ini mempunyai sensor fotolistrik untuk mengukur intensiti cahaya dan sensor perpindahan ketepatan tinggi. Pembaris kisi dapat mengukur anjakan, dan mengukur penyebaran intensiti difraksi dengan tepat. Komputer mengawal pemerolehan dan pemprosesan data, dan hasil pengukuran dapat dibandingkan dengan formula teori.

Eksperimen

1. Ujian celah tunggal, celah berganda, kerangka berpori dan pelbagai segi empat, hukum intensiti difraksi berubah dengan keadaan eksperimen

2. Komputer digunakan untuk merakam pengedaran intensiti dan intensiti celah tunggal, dan lebar difraksi celah tunggal digunakan untuk mengira lebar celah tunggal.

3. Untuk memerhatikan pengedaran intensiti difraksi beberapa celah, lubang segi empat dan lubang bulat

4. Untuk memerhatikan pengecutan Fraunhofer celah tunggal

5. Untuk menentukan taburan intensiti cahaya

Spesifikasi